کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396351 | 1392284 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of epitaxial films of nanometric thickness on the X-ray photoelectron diffraction intensities from substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Effect of thin films on XPD intensities from a substrate. ⺠Intensity minima in XPD curves from substrate corresponding to intensity maxima in those from film. ⺠These effects can be explained in terms of multiple scattering of photoelectrons.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 11, November 2012, Pages 470-474
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 11, November 2012, Pages 470-474
نویسندگان
A. Atrei,