کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5396351 1392284 2012 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of epitaxial films of nanometric thickness on the X-ray photoelectron diffraction intensities from substrates
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Effects of epitaxial films of nanometric thickness on the X-ray photoelectron diffraction intensities from substrates
چکیده انگلیسی
► Effect of thin films on XPD intensities from a substrate. ► Intensity minima in XPD curves from substrate corresponding to intensity maxima in those from film. ► These effects can be explained in terms of multiple scattering of photoelectrons.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 11, November 2012, Pages 470-474
نویسندگان
,