کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5396401 1392286 2012 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Recent advances in imaging of properties and growth of low dimensional structures for photonics and electronics by XPEEM
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Recent advances in imaging of properties and growth of low dimensional structures for photonics and electronics by XPEEM
چکیده انگلیسی
► 3d electronic band mapping is made using XPEEM. ► Free-standing graphene on SiC can be made by atomic intercalation. ► XPEEM gives a deeper insight into growth of self-seeded III-V nanowires. ► Presents controlled self-propelled droplet dynamics on GaP surface. ► Presents punp-probe experiments in the attosecond time range.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 417-428
نویسندگان
, , ,