کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396401 | 1392286 | 2012 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Recent advances in imaging of properties and growth of low dimensional structures for photonics and electronics by XPEEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠3d electronic band mapping is made using XPEEM. ⺠Free-standing graphene on SiC can be made by atomic intercalation. ⺠XPEEM gives a deeper insight into growth of self-seeded III-V nanowires. ⺠Presents controlled self-propelled droplet dynamics on GaP surface. ⺠Presents punp-probe experiments in the attosecond time range.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 417-428
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 417-428
نویسندگان
A.A. Zakharov, A.Mikkelsen A.Mikkelsen, J.N. Andersen,