| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 5396401 | 1392286 | 2012 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Recent advances in imaging of properties and growth of low dimensional structures for photonics and electronics by XPEEM
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													شیمی
													شیمی تئوریک و عملی
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												چکیده انگلیسی
												⺠3d electronic band mapping is made using XPEEM. ⺠Free-standing graphene on SiC can be made by atomic intercalation. ⺠XPEEM gives a deeper insight into growth of self-seeded III-V nanowires. ⺠Presents controlled self-propelled droplet dynamics on GaP surface. ⺠Presents punp-probe experiments in the attosecond time range.
											ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 417-428
											Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 185, Issue 10, October 2012, Pages 417-428
نویسندگان
												A.A. Zakharov, A.Mikkelsen A.Mikkelsen, J.N. Andersen,