کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5396437 | 1505749 | 2012 | 14 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Regularization methods for the extraction of depth profiles from simulated ARXPS data derived from overlayer/substrate models
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Regularization methods for the extraction of depth profiles from simulated ARXPS data derived from overlayer/substrate models Regularization methods for the extraction of depth profiles from simulated ARXPS data derived from overlayer/substrate models](/preview/png/5396437.png)
چکیده انگلیسی
⺠Regularization improved the accuracy and reproducibility of ARXPS depth profiles. ⺠The “S-curve” and “L-curve” regularization parameters were shown to be equivalent. ⺠“S-curve” parameterization was optimal in 50% of cases for the MaxEnt regulator.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 184, Issues 11â12, January 2012, Pages 569-582
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volume 184, Issues 11â12, January 2012, Pages 569-582
نویسندگان
R.W. Paynter,