کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
540119 | 1450398 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Combined electron beam and UV lithography in SU-8
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We present combined electron beam and UV lithography (CEUL) in SU-8 as a fast and flexible lithographic technique for prototyping of functional polymer devices and pattern transfer applications. CEUL is a lithographic technique suitable for defining both micrometer and nanometer scale features in a single polymer film on the wafer scale. The height of the micrometer and nanometer scale features is matched within 30 nm. As a pattern transfer application, we demonstrate stamp fabrication and thermal nanoimprint of a 2-dimensional array of 100 nm wide lines with a pitch of 380 nm in connection with micrometer scale features.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 84, Issues 5–8, May–August 2007, Pages 1058–1061
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 84, Issues 5–8, May–August 2007, Pages 1058–1061
نویسندگان
M. Gersborg-Hansen, L.H. Thamdrup, A. Mironov, A. Kristensen,