کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5436623 1509553 2017 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Engineering the grain boundary network of thin films via ion-irradiation: Towards improved electromigration resistance
ترجمه فارسی عنوان
مهندسی شبکه مرزی دانه از فیلم های نازک از طریق تابش یون: به منظور بهبود مقاومت الکتروگریتراسیون
کلمات کلیدی
مهندسی مرز دانه فیلم های نازک یون اشعه، طراحی میکروارگانیسم الکترو مهاجرت،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش مقاله
مهندسی شبکه مرزی دانه از فیلم های نازک از طریق تابش یون: به منظور بهبود مقاومت الکتروگریتراسیون
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 123, 15 January 2017, Pages 272-284
نویسندگان
, , , , ,