کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6942471 | 1450291 | 2018 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sub-10Â nm electron and helium ion beam lithography using a recently developed alumina resist
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Sub-10Â nm electron and helium ion beam lithography using a recently developed alumina resist Sub-10Â nm electron and helium ion beam lithography using a recently developed alumina resist](/preview/png/6942471.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 193, 5 June 2018, Pages 18-22
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 193, 5 June 2018, Pages 18-22
نویسندگان
Andrea Cattoni, Dominique Mailly, Olivier Dalstein, Marco Faustini, Gediminas Seniutinas, Benedikt Rösner, Christian David,