کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6942471 1450291 2018 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sub-10 nm electron and helium ion beam lithography using a recently developed alumina resist
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Sub-10 nm electron and helium ion beam lithography using a recently developed alumina resist
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 193, 5 June 2018, Pages 18-22
نویسندگان
, , , , , , ,