کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6942510 | 1450292 | 2018 | 26 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A novel fault tolerant majority gate in quantum-dot cellular automata to create a revolution in design of fault tolerant nanostructures, with physical verification
ترجمه فارسی عنوان
یک دروغ اکثریت تحمل شکستگی در ماشینهای کوانتومی نقطه سلولی برای ایجاد یک انقلاب در طراحی نانوساختارهای تحمل گسل، با تایید فیزیکی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 192, 15 May 2018, Pages 52-60
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 192, 15 May 2018, Pages 52-60
نویسندگان
Hassan Hosseinzadeh, Saeed Rasouli Heikalabad,