کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6942660 1644959 2018 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Suspended DNA structural characterization by TEM diffraction
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Suspended DNA structural characterization by TEM diffraction
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volumes 187–188, 5 February 2018, Pages 39-42
نویسندگان
, , , , , , ,