کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6942682 | 1644959 | 2018 | 31 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Conduction mechanisms, dynamics and stability in ReRAMs
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volumes 187â188, 5 February 2018, Pages 121-133
Journal: Microelectronic Engineering - Volumes 187â188, 5 February 2018, Pages 121-133
نویسندگان
Chen Wang, Huaqiang Wu, Bin Gao, Teng Zhang, Yuchao Yang, He Qian,