کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6943037 | 1450334 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Deducing the apparent flat-band position Vafb and the doping level of large area single layer graphene MOS capacitors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 314-317
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 314-317
نویسندگان
H.C.D. Lin, I. Asselberghs, A. Vais, G. Arutchelvan, A. Delabie, M. Heyns, A. Mocuta, I. Radu, A. Thean,