کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943063 1450334 2015 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Extensive study of Bias Temperature Instability in nanowire transistors
ترجمه فارسی عنوان
مطالعه گسترده ای از بی ثباتی دمای تبخیر در ترانزیستورهای نانوسیم
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
مطالعه گسترده ای از بی ثباتی دمای تبخیر در ترانزیستورهای نانوسیم
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 147, 1 November 2015, Pages 10-14
نویسندگان
, , , , , , ,