کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943418 1450340 2015 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Inductively coupled plasma etching of tapered via in silicon for MEMS integration
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Inductively coupled plasma etching of tapered via in silicon for MEMS integration
چکیده انگلیسی
(Upper) Illustration of MEMS 3D integration and wafer-level packaging with a typical TSV technology; (lower left) schematic of an ICP etch system; (lower right) a 50 μm via with 72° profile by means of ICP etch.137
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 141, 15 June 2015, Pages 261-266
نویسندگان
, ,