کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6943418 | 1450340 | 2015 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Inductively coupled plasma etching of tapered via in silicon for MEMS integration
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
(Upper) Illustration of MEMS 3D integration and wafer-level packaging with a typical TSV technology; (lower left) schematic of an ICP etch system; (lower right) a 50 μm via with 72° profile by means of ICP etch.137
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 141, 15 June 2015, Pages 261-266
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 141, 15 June 2015, Pages 261-266
نویسندگان
Zhong Ren, Mark E. McNie,