کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943476 1450344 2015 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Phase Change Memory: Device scaling and challenges for material engineering in the GeSbTe compound system
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Phase Change Memory: Device scaling and challenges for material engineering in the GeSbTe compound system
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 137, 2 April 2015, Pages 1-4
نویسندگان
, ,