کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943787 1450369 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
RESET-first bipolar resistive switching due to redox reaction in ALD HfO2 films
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
RESET-first bipolar resistive switching due to redox reaction in ALD HfO2 films
چکیده انگلیسی

- Migration of oxygen anions between HfO2 and Ti during the switching.
- Effect of the redox reaction on initial conductivity and switching.
- RESET-first resistive switching engineered by redox reaction with annealing.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 112, December 2013, Pages 46-51
نویسندگان
, , , , , , , ,