کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943934 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Si cap passivation for Ge nMOS applications
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Si cap passivation for Ge nMOS applications
چکیده انگلیسی

- Si cap passivation on Ge shows low border trap response.
- The Si cap passivation is also suitable for Ge nMOS applications.
- Low Dit at Ec can be achieved by tuning the amount of Si at the interface.
- A dry O3 process can be used to control the amount of Si that is oxidized.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 46-49
نویسندگان
, , , , , , , , , , , , , ,