کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944010 1450373 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigation on the I2:CuI thin films and its stability over time
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Investigation on the I2:CuI thin films and its stability over time
چکیده انگلیسی
Mister atomizer method for deposition of CuI and its resistivity values.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 108, August 2013, Pages 106-111
نویسندگان
, ,