کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944011 1450372 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Defects at Ge:GeO2 and Ge:MeOx interfaces
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Defects at Ge:GeO2 and Ge:MeOx interfaces
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 244-249
نویسندگان
, ,