کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944043 1450372 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Understanding Ge impact on VT and VFB in Si1−xGex/Si pMOSFETs
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Understanding Ge impact on VT and VFB in Si1−xGex/Si pMOSFETs
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 282-285
نویسندگان
, , , , , , , , , , , , ,