دانلود رایگان مقاله ISI : فرایندهای تسخیری را در شکل گیری حافظه در لایه های نانوکریستیوم تک و دو نانومواد برافراشته می کند

Charge trapping processes at memory window formation in single- and double nanocrystal layered NVMs

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 5-9

V. Ievtukh, A. Nazarov, V. Turchanikov, V. Lysenko, A. Nassiopoulou,