کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944167 1450372 2013 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Defects at Ge/oxide and III-V/oxide interfaces
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Defects at Ge/oxide and III-V/oxide interfaces
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 211-215
نویسندگان
, , , , ,