کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6944305 | 1450383 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A simple and novel method for the evaluation of adhesion properties between UV curable resin and stamp in UV-nanoimprint lithography (UV-NIL)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠A simple and novel method to evaluate the adhesion properties of UV curable resin for UV-NIL. ⺠The pull-off test between a stamp and UV curable resin. ⺠The effect of the process conditions on the pull-off force. ⺠This test method can be useful to select the materials and the process conditions for UV-NIL.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 98, October 2012, Pages 64-69
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 98, October 2012, Pages 64-69
نویسندگان
Jung-Chul Heo, Kwang-Seop Kim, Kyung-Woong Kim,