کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6944305 1450383 2012 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A simple and novel method for the evaluation of adhesion properties between UV curable resin and stamp in UV-nanoimprint lithography (UV-NIL)
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
A simple and novel method for the evaluation of adhesion properties between UV curable resin and stamp in UV-nanoimprint lithography (UV-NIL)
چکیده انگلیسی
► A simple and novel method to evaluate the adhesion properties of UV curable resin for UV-NIL. ► The pull-off test between a stamp and UV curable resin. ► The effect of the process conditions on the pull-off force. ► This test method can be useful to select the materials and the process conditions for UV-NIL.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 98, October 2012, Pages 64-69
نویسندگان
, , ,