کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6944482 | 1450383 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Automated Scanning Tunneling Microscope image analysis of Si (100):H 2Â ÃÂ 1 surfaces
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Automated image analysis of Si surfaces supports scanning probe lithography. ⺠Atomic terraces, dimers, vacancies, and dangling bonds are identified. ⺠This technology supports a program for atomically precise manufacturing.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 98, October 2012, Pages 214-217
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 98, October 2012, Pages 214-217
نویسندگان
J.N. Randall, J.R. Von Ehr, J.B. Ballard, J.H.G. Owen, E. Fuchs,