کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
729399 | 892890 | 2006 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Interfaces between γγ-Al2O3Al2O3 and silicon
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
As the epitaxy of crystalline LaAlO3 has not been realized yet, we investigated the use of a γγ-Al2O3Al2O3 buffer layer between the high-κκ and the substrate. We firstly studied the structural matching of γγ-Al2O3Al2O3(0 0 1) with a Si(0 0 1)-p(2×1)p(2×1) reconstructed surface. According to experimental data and computations in the density functional theory framework, we found stable interfaces between γγ-Al2O3Al2O3 and Si which encounters surface reconstruction changes. These interfaces satisfy the criterion of an insulating buffer layer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 9, Issue 6, December 2006, Pages 949–953
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 9, Issue 6, December 2006, Pages 949–953
نویسندگان
P. Boulenc, I. Devos,