کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
746731 | 1462235 | 2014 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characteristics of GaN and AlGaN/GaN FinFETs
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
AlGaN/GaN FinFETs, with high quality atomic layer deposited (ALD) Al2O3 gate dielectric, have been fabricated. The devices have a two-dimensional electron gas (2DEG) channel formed at AlGaN/GaN heterointerface and two sidewall GaN MOS channels. Two distinct transconductance peaks can be observed, one for the 2DEG channel and the other for the sidewall GaN MOS channels. On the other hand, we present heterojunction-free GaN FinFETs with junctionless configuration. The current flows through the volume of the heavily doped GaN fin rather than at the surface channel, which leads to superior off-state performance and less drain-induced virtual substrate biasing (DIVSB) effect.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 97, July 2014, Pages 66–75
Journal: Solid-State Electronics - Volume 97, July 2014, Pages 66–75
نویسندگان
Ki-Sik Im, Hee-Sung Kang, Jae-Hoon Lee, Sung-Jae Chang, Sorin Cristoloveanu, Maryline Bawedin, Jung-Hee Lee,