کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
748218 | 894748 | 2008 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The effects of radiation-induced interface traps on base current in gated bipolar test structures
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Ionizing radiation experiments on gated bipolar transistors used as radiation test structures show a broadening in the peak base current profile after irradiation. The primary mechanism for this effect is identified as the change in the charge state of radiation-induced interface traps in the oxide over the base. From theoretical analysis using Shockley–Reed–Hall (SRH) statistics, a mathematical formulation of effective Fermi level, Ef,eff is derived to describe the charge state of interface traps in a gated bipolar transistor under forward bipolar operation as the surface of the transistor is changed from accumulation to inversion by biasing on the gate terminal.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 52, Issue 5, May 2008, Pages 683–687
Journal: Solid-State Electronics - Volume 52, Issue 5, May 2008, Pages 683–687
نویسندگان
X.J. Chen, H.J. Barnaby,