کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7674091 | 1495685 | 2016 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantification of modifiers in advanced materials based on zinc oxide by total reflection X-ray fluorescence and inductively coupled plasma mass spectrometry
ترجمه فارسی عنوان
کوانتومی اصلاح کننده ها در مواد پیشرفته بر اساس اکسید روی با استفاده از فلورسانس اشعه ایکس انعکاس یافته و طیف سنجی جرم پلاسما
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
چکیده انگلیسی
A novel approach to quantification of Ga and Zn modifiers in advanced materials based on zinc oxide is presented. The approach includes a combination of total reflection X-ray fluorescence (TXRF) and inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) for determination and validation of the results. It is suggested to use aqueous standards for the direct determination of elements in powder samples by TXRF with a relative standard deviation no more than sr = 0.11. The accuracy of these results was proved by ICP-MS after the sample decomposition, sr(In) = 0.05, sr(Ga) = 0.06 and sr(Zn) = 0.06. It was established that there is a possibility to determine indium above 300 ppb on the background of K-M3 line of argon.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 118, 1 April 2016, Pages 62-65
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 118, 1 April 2016, Pages 62-65
نویسندگان
Daria G. Filatova, Nikolai V. Alov, Natalia A. Vorobyeva, Marina N. Rumyantseva, Pavel Yu. Sharanov, Irina F. Seregina, Alexander M. Gaskov,