کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7674703 | 1495703 | 2014 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Combined evaluation of grazing incidence X-ray fluorescence and X-ray reflectivity data for improved profiling of ultra-shallow depth distributions
ترجمه فارسی عنوان
ارزیابی ترکیبی از میزان فلورسنت اشعه ایکس و داده های انعکاسی اشعه ایکس برای پیشگیری از توزیع عمق کم عمق
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
چکیده انگلیسی
Silicon wafers implanted with Arsenic at different implantation energies were measured by XRR and GIXRF using a combined, simultaneous measurement and data evaluation procedure. The data were processed using a self-developed software package (JGIXA), designed for simultaneous fitting of GIXRF and XRR data. The results were compared with depth profiles obtained by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 99, 1 September 2014, Pages 121-128
Journal: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy - Volume 99, 1 September 2014, Pages 121-128
نویسندگان
D. Ingerle, F. Meirer, G. Pepponi, E. Demenev, D. Giubertoni, P. Wobrauschek, C. Streli,