کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7915954 | 1511041 | 2015 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Batch screening of commercial serial flash-memory integrated circuits for low-temperature applications
ترجمه فارسی عنوان
نمایش سری از سریال های تجاری مجتمع فلش مموری برای برنامه های کاربردی با درجه حرارت پایین
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
چکیده انگلیسی
We present comprehensive results on the experimentally measured performance of commercial serial flash-memory integrated circuits (ICs) over a wide temperature range (â196 °C to 25 °C). We also address endurance issues because our intended low-temperature application is electronics related to long-term storage of biological material. We compared six batches of flash-memory ICs, manufactured between 2007 and 2012. Test results reveal a batch-to-batch variation of the pass rate. Typically, programming times increase by a factor of 4-6 at â196 °C. The practical relevance of our results is discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Cryogenics - Volume 71, October 2015, Pages 39-46
Journal: Cryogenics - Volume 71, October 2015, Pages 39-46
نویسندگان
Frank R. Ihmig, Stephen G. Shirley, Heiko Zimmermann,