کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7939771 1513190 2017 25 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ambipolarity reduction in DMG asymmetric vacuum dielectric Schottky Barrier GAA MOSFET to improve hot carrier reliability
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Ambipolarity reduction in DMG asymmetric vacuum dielectric Schottky Barrier GAA MOSFET to improve hot carrier reliability
چکیده انگلیسی
The surface potential is determined for three different regions by solving 1-D Poisson's and 2-D Laplace equation through separation of variable method to facilitate an optimal model for calculating the subthreshold drain current from Si-SiO2 interface boundary. The developed model results are in good agreement with that of ATLAS-TCAD simulation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 111, November 2017, Pages 10-22
نویسندگان
, , , ,