کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9585424 | 1505782 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Patterning and imaging of self-assembled monolayers with a focused soft X-ray beam
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The scanning photoelectron microscopy (SPEM) setup has been utilized for patterning of thiol-derived self-assembled monolayers (SAMs) and chemical imaging of the fabricated patterns. The advantage of this approach lies in its high flexibility, which opens new opportunities for the fabrication and characterization of monomolecular patterns. We briefly summarize in this paper our recent results with particular emphasis on the fabrication of multi-exposure and gradient patterns, and the tailored modification of functional groups.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volumes 144â147, June 2005, Pages 393-396
Journal: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena - Volumes 144â147, June 2005, Pages 393-396
نویسندگان
Ruth Klauser, C.-H. Chen, M.-L. Huang, S.-C. Wang, T.J. Chuang, M. Zharnikov,