کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9699124 1461440 2005 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of the poly/epi kinetic ratio in SiH4 based chemistry for new CMOS architectures
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Study of the poly/epi kinetic ratio in SiH4 based chemistry for new CMOS architectures
چکیده انگلیسی
In this work, we studied the effect of the deposition temperature, partial pressure and crystallite texture on the poly/epi growth rate ratio by decomposition of silane. Deposition was performed by rapid thermal chemical vapor deposition (RTCVD) in the temperature range 590
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science in Semiconductor Processing - Volume 8, Issues 1–3, February–June 2005, Pages 21-24
نویسندگان
, , , , ,