کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9829871 | 1524499 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
First-principles study on crystal and electronic structures of stacking-fault tetrahedra in epitaxialized Si films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Atomic and electronic structures of the ridgeline and the apex of stacking-fault tetrahedron (SFT) defect in Si films are studied by using the first-principles calculations. It is shown that the electron and hole states of bulk Si are localized around the SFT faces, the SFT ridges, and the SFT apexes. This feature occurs due to the unique atomic geometries in these SFT structures, such as stacking-fault layers, dimer bonds, and the Si-dome structures.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 278, Issues 1â4, 1 May 2005, Pages 500-504
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 278, Issues 1â4, 1 May 2005, Pages 500-504
نویسندگان
Ryo Kobayashi, Takashi Nakayama,