دانلود مقالات ISI درباره طیف نگاری الکترون اوژه + ترجمه فارسی

طیف‌نگاری الکترون اوژه Auger electron spectroscopy به اختصار AES روش رایجی برای بررسی سطح نمونه‌ها در مهندسی مواد است. طیف نگاری اوژه با استفاده از اثر اوژه و بر مبنای آنالیز الکترون های پرانرژی ساطع شده از یک اتم تهییج شده (پس از زنجیره‌ای از فرآیندهای آسایش) انجام می‌شود. در طیف‌نگاری الکترون اوژه، فرایند تحریک الکترون‌ها به وسیله باریکه ای از الکترون‌های فرودی که از یک تفنگ الکترونی بیرون می‌آیند انجام می‌شود و شدت الکترون‌های اوژه بر حسب انرژی جنبشی آنها اندازه‌گیری می‌شود. مقدار انرژی جنبشی الکترون گسیل شده (الکترون اوژه)، به کمک انرژی یونش لایه‌ای که الکترون اوژه در آن لایه قرار دارد و انرژی انتقال الکترون، تعیین می شود. بنابراین انرژی الکترون اوژه با تغییر انرژی باریکه الکترون های فرودی، تغییر نمی کند. توزیع انرژی الکترون های اوژه نسبتا تیز است که انرژی آن ها به وسیله تحلیل گرها، آشکار‌سازی می‌شود. از آن جایی که انرژی های الکترون های اوژه به اندازه ای است که عمق فرار این الکترون‌ها را محدود می کند، این طیف نگاری یک آنالیز حساس به سطح است که با استفاده از آن می توان عمق 10 تا 30 آنگستروم را مطالعه کرد. الکترون های اوژ ای که از عمق 15 آنگسترومی سطح به تحلیل گر می-رسند، انرژی برابر با 1000 الکترون ولت دارند. اثر اوژه به صورت مستقل توسط لیسه میتنر و پیر اوژه در دهه‌ی 1920 کشف گردید. تا اوایل دهه ۱۹۵۰، انتقال‌های اوژه به وسیله طیف ‌شناسان به عنوان آثاری مزاحم شناخته می‌شدند و شامل اطلاعات موادی مرتبط زیادی نبودند، اما برای بیان ناهنجاری ها در اطلاعات طیف سنجی پرتو ایکس به کار می‌رفتند. با این وجود از سال ۱۹۵۳، AES یه تکنیکی کاربردی و توصیف سرراست برای تفحص محیط های سطحی شیمیایی و ترکیبی تبدیل شده است و در متالورژی، شیمی حالت گاز و در صنعت ریزالکترونیک ها کاربردهایی پیدا کرده است. کاربردهای کلی: 1- آنالیز ترکیبی منطقه ۵ تا ۳ نانومتر نزدیک سطح برای تمام عناصر به‌جز هیدروژن و هلیم 2- رسم منحنی عمق – ترکیب و آنالیز فیلم نازک 3- آنالیز شیمیایی تجزیه جانبی بالای سطح و مطالعات ناهمگون برای تعیین متغیرهای ترکیبی در محدوده بزرگ تراز ۱۰۰ نانومتر 4- آنالیز مرزدانه و دیگر سطوح مشترک به وجود آمده شده به وسیله ترک 5- تشخیص فازها در مقاطع میانی. محدودیت‌ها: 1- غیر حساس به هیدروژن و هلیم. 2- آسیب پرتو الکترون می‌تواند تست غیرمخرب مواد آلی و زیستی و گاه مواد سرامیکی را محدود کند. 3- بار اکتریکی پرتو الکترونی ممکن است آنالیز مواد تجزیه‌شونده را محدود کند. 4- حساسیت ردیابی کمی برای بیشتر عناصر از ۰٫۱ تا ۱ درصد اتمی است.