دانلود مقالات ISI درباره میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن + ترجمه فارسی

Mixed-alkali effect in sodium–potassium glasses irradiated with electrons

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; Mixed-alkali effect; Radiation effects; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Alkali silicates

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Study of dielectric relaxation phenomena and electrical properties of conductive polyaniline based composite films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; Electrochromics; Sensors; Electrical and electronic properties; Conductivity; Dielectric properties, relaxation, electric modulus; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Polymers and organics

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Processing optimization and optical properties of 3-D photonic crystals

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 42.70.Qs; 78.20.Ci; 81.20.Fw; 64.75.YzSensors; Photonic bandgap; Ellipsometry; SEM S100; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Defects; Colloids; Optical spectroscopy; Reflectivity; Infrared properties; Silica; Solution chemistry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Study of microstructure in Agx(As0.33Se0.67)100−x chalcogenide glasses

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 66.10.Ed; 77.22.Ch; 64.75.Nx; 65.60.+aConductivity; Dielectric properties; Relaxation; Electric modulus; Fast ion conduction; Chalcogenides; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Fabrication and characterization of photocurable inorganic–organic hybrid materials using organically modified colloidal-silica nanoparticles and acryl resin

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 81.07.Pr; 81.20.Fw; 82.33.LnSTEM/TEM; Hardness; Indentation, microindentation; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Nanoparticles; FT-IR measurements; Organic–inorganic hybrids

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Fracture in precursor-derived Si–C–N ceramics – Analysis of crack roughness and damage mechanisms

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 62.25.Mn; 61.43.Er; 61.43.Hv; 81.40.Np; 81.40.Lm; 81.05.Je; 81.07.BcCeramics; Crack growth; Fracture; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Special glasses and materials; Fluctuations

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Role of ballistic transport in photoluminescence excitation of Si nanocrystals

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; Silicon; Nanocrystals; Optical spectroscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Scanning electron microscopy; Modeling and simulation; Nanoparticles; Optical properties; Luminescence;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Absorption and emission properties of LBL PPV films deposited on ITO electrodes

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 72.80.Le; 78.20.−e; 78.40.Me; 78.66.Qn; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Defects; Optical properties; Absorption; Luminescence;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Photocarrier diffusion lengths of high-growth-rate microcrystalline silicon

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 05.45.Df; 68.37.Ps; 68.55.−a; 73.50.−h; 73.63.−b; 73.50.GrCrystal growth; Nanocrystals; Plasma deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Photoconductivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Fluorinated nanoporous SiO2 films with ultra-low dielectric constant

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 77.55.+f; 81.05.RmSpin coating; Fluorides; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Porosity; Luminescence; FTIR measurements; Silica

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Influence of boron doping on roughness microcrystalline silicon

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 05.45.Df; 61.72.Tt; 68.37.Ps; 68.55.−a; 81.15.GhCrystal growth; Nucleation; Plasma deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Crystallization of NANOPERM-type amorphous alloys

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 64.70.Nd; 68.37.Ps; 75.50.Tt; 76.80.+yAlloys; Nanocrystals; Mossbauer effect and spectroscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy; X-ray diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

The effect of thermal annealing on the structural and mechanical properties of a-C:H thin films prepared by the CFUBM magnetron sputtering method

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.49.Uv; 81.15.Cd; 81.05.Uw; 62.20.Qp; 83.85.St; 82.37.Gk; 61.46.Bc; 87.64.JeUPS/XPS; Sputtering; Carbon; Hardness; Mechanical, stress relaxation; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Nano-clusters; Raman spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Dynamic condensation of water at crack tips in fused silica glass

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 62.20.Mk; 68.03.Cd; 68.37.PsCorrosion; Crack growth; Fracture; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Silica; Water in glass

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Crystallinity of the mixed phase silicon thin films by Raman spectroscopy

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 78.30.Am; 68.37.Ps; 73.63.BdSilicon; Raman scattering; Chemical vapor deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Raman spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Spatially localized current-induced crystallization of amorphous silicon films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 73.61.Jc; 68.37.Ps; 61.46.Hk; 81.16.−cSilicon; Crystallization; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Nanocrystals

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Application of the optical method for determining of the RMS roughness of porous glass surfaces

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 78.68.+mGlasses; Optical spectroscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Porosity; Reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Surface smoothing of sputter deposited amorphous CNx films by silicon addition

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.35.Ct; 68.37.Ps; 81.15.CdUPS/XPS; Sputtering; Diamond-like carbon; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Micron scale and nanoscale structure of mesoporous silica thin films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 61.43.Gt; 68.55.−a; 81.05.RmSpin-coating; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Porosity; Silica

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Active planar waveguides based on sol–gel Er3+-doped SiO2–ZrO2 for photonic applications: Morphological, structural and optical properties

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; Glass-ceramics; Planar waveguides; Atomic force and scanning tunneling microscopy; TEM/STEM; Nanocrystals; FTIR measurements; Silica; Silicates; Sol–gels (xerogels); X-ray diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Metallic phase formation in oxide films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 61.82.Ms; 61.43.Fs; 68.35.Md; 82.80.PvDiffusion and transport; Radiation effects; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Oxide glasses; Radiation; Thermal properties; XPS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Selective dissolution of Agx(As0.33S0.67−ySey)100−x chalcogenide thin films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 77.84.Dy; 52.77.Bn; 07.79.LhChemical durability; Composition; Vapor phase deposition; Chalcogenides; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Degradation of nickel (86 MeV) ion irradiated polystyrene

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 61.41.+e; 71.20.Rv; 78.66.Qn; 78.70.−g; 81.05.LgBiopolymers; X-ray diffraction; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Polymers and organics; Radiation; Structure; Surfaces and interfaces; X-rays

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Electronic structure and charge transport properties of amorphous Ta2O5 films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.49.Uv; 71.15.Mb; 71.20.−b; 72.20.−i; 78.20.−eBand structure; Dielectric properties, relaxation, electric modulus; Ellipsometry; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Ab initio; XPS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Local magnetoresistance of nanoconstrictions

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 73.23.−b; 73.63.RtConductivity; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

AFM investigations during the nanostructure formation in FeZrB alloys

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 75.50.Kj; 81.07.Bc; 68.37.PsAmorphous metals, metallic glasses; Alloys; Crystals; Nanocrystals; Magnetic properties; Microscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microstructure; Microcrystallinity; Nanoparticles, colloids and quantum struct

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Selective wet-etching and characterization of chalcogenide thin films in inorganic alkaline solutions

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 77.84.Bw; 81.65.Cf; 91.60.Mk; 85.30.−zFilms and coatings; Vapor phase deposition; Glass formation; Infrared glasses; Chalcogenides; Optical spectroscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Optical microscopy; Nanoparticles; Absorption

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Magnetic behavior and microstructure of Finemet-type ribbons in both, surface and bulk

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 75.30.Gw; 75.50.Kj; 81.07.Bc; Alloys; X-ray diffraction; Magnetic properties; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microcrystallinity; Nanoparticles;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Smallest (∼10 nm) phase-change marks in amorphous and crystalline Ge2Sb2Te5 films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 81.05.Gc; 81.07.−b; 73.61.Jc; 65.60.+a; Nucleation; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Nanoclusters; Nanocrystals;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Deformation of colloidal silica particles using MeV Si ion irradiation

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 61.80.−x; 61.82.Ms; 82.70.DdSEM; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Colloids; Silica; Radiation

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Changes in surface morphology of silicate glass induced by fast electron irradiation

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 61.80.Fe; 81.05.Kf; 81.05.KfRadiation effects; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Alkali-silicates; Radiation

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

GeO2 based high k dielectric material synthesized by sol–gel process

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 61.10.Nz; 68.60.Bs; 81.20.Fw; 61.20.−i; 77.55.+fDiffraction and scattering measurements; X-ray diffraction; Films and coatings; Spin coating; Microscopy; SEM; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Oxide glasses; Germania; Sol–gel, aerogel and so

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Characterizations of pulsed laser deposited SiC thin films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 61.10.Nz; 68.37.Ps; 78.30.−jRaman scattering; UPS/XPS; X-ray diffraction; Laser deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Characteristics of ITO films fabricated on glass substrates by high intensity pulsed ion beam method

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 82.45.Mp; 73.61.−r; 68.37.Ps; 61.10.NzX-ray diffraction; Conductivity; Films and coatings; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Radiation; Indium tin oxide and other transparent conductors

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Influence of annealing on the physical properties of filtered vacuum arc deposited tin oxide thin films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 42.70.a; 78.20.Ci; 81.05.Uw; 81.15.EfII–VI Semiconductors; Ellipsometry; Plasma deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Optical properties; Absorption; Tin oxide; X-ray diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Roughness of glass surfaces formed by sub-critical crack growth

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; Mechanical properties; Crack growth; Fracture; Microscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Stress-enhanced ion diffusion at the vicinity of a crack tip as evidenced by atomic force microscopy in silicate glasses

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 62.20.Mk; 66.30.−h; 68.03.Cd; 68.37.PsDiffusion and transport; Crack growth; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microstructure; Oxide glasses; Soda–lime–silica; Structural relaxation; Water

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 18 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Texture and surface analysis of thin-film GaAs on glass formed by pulsed-laser deposition

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 71.55.Eq; 68.55.−a; 81.15.FgAmorphous semiconductors; III–V semiconductors X-ray diffraction; Laser deposition; Optical spectroscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microcrystallinity; Raman spectroscopy; Surfaces and interfaces; X-ray di

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Complex study of mechanical properties of a-Si:H and a-SiC:H boron doped films

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.60.−p; 71.23.Cq; 72.40.+w; Amorphous semiconductors; Mechanical properties; Hardness; Indentation; Microindentation; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Scanning electron microscopy; Absorbtion;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Characterization of mixed phase silicon by Raman spectroscopy

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 78.30.Am; 68.37.Ps; 73.63.BdSilicon; Raman scattering; Atomic force and scanning tunneling microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Transport properties of microcrystalline silicon, prepared at high growth rate

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.55.Ac; 68.37.Ps; 78.66.Jg; 73.63.BdAmorphous semiconductors; Silicon; Crystal growth; Nanocrystals; Electrical and electronic properties; Conductivity; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microcrystallinity; Photoconductivity; Raman spectro

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Scaling properties of growing surfaces of microcrystalline silicon

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 05.45.Df; 68.37.Ps; 68.55.–a; 81.15.GhSilicon; Crystal growth; Chemical vapor deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microstructure; Surfaces and interfaces

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Holographic recording in amorphous As2S3 films at 633 nm

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 42.40.Lx; 78.66.JgAmorphous semiconductors; Chalcogenides; Optical spectroscopy; Mechanical, stress relaxation; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Defects; Optical properties; Non-linear optics; Structure; Medium-range order; Short-range orde

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Detailed structural study of low temperature mixed-phase Si films by X-TEM and ambient conductive AFM

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.37.Ps; 68.55.Ac; 73.63.Bd; 81.15.GhSilicon; Solar cells; Plasma deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; TEM/STEM

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Dynamics of low temperature PECVD growth of microcrystalline silicon thin films: Impact of substrate surface treatments

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.55.Jk; 81.15.Gh; 81.70.Fy; Photovoltaics; Thin film transistors; Ellipsometry; Plasma deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microcrystallinity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Microcrystalline silicon prepared at magnetic field modified nucleation

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 68.55.Ac; 68.37.Ps; 78.66.Jg; 73.63.BdAmorphous semiconductors; Nucleation; Electrical and electronic properties; Chemical vapor deposition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Microcrystallinity; Optical properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Local fluctuations and FDR violations in aging glass

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; Dielectric properties; Relaxation, electric modulus; Glass transition; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Fluctuations

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Characterization of pure ZnO thin films prepared by a direct photochemical method

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 81.07.−b; 81.07.Bc; 81.15.−z; 78.20.−eAmorphous semiconductors; Electrical and electronic properties; Films and coatings; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Absorption; XPS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Optical properties of biocompatible polyaniline nano-composites

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 82.35.Np; 82.35.Cd; 78.67.−n; 68.37.Ps; 68.37.Hk; 78.40.−q; 78.55.−mBiomaterials; Optical spectroscopy; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Scanning electron microscopy; Nanoparticles, colloids and quantum structures; Nano-composites; Nanopart

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Sol–gel deposition of silica films on silicate glasses: Influence of the presence of lead in the glass or in precursor solutions

Keywords: میکروسکوپ تونل زنی نیروی اتمی و اسکن; 81.20.Fw; 79.60.−i; 82.80.Ms; 68.37.PsCatalysis; UPS/XPS; Films and Coatings; Atomic force and scanning tunneling microscopy; Silica; Sol–gel, aerogel and solution chemistry; Surfaces and interfaces; XPS

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه