آشنایی با موضوع

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) میکروسکوپ نیروی اتمی همچون میکروسکوپ تونلی روبشی از زیرمجموعه‌های میکروسکوپ پروبی روبشی به حساب می‌آید. این میکروسکوپ از نوکی بسیار تیز برای پروب و نقشه‌برداری از پستی بلندی‌های سطح نمونه استفاده می‌کند. میکروسکوپ نیروی اتمی نیروهای میدان نزدیک بین اتم‌های نوک پروب و اتم‌های سطح نمونه را به جای جریان تونلی، ردیابی می‌کند. از آنجایی که میکروسکوپ نیروی اتمی محدود به سطوح هادی الکتریکی نیست، گسترده‌تر از میکروسکوپ تونلی روبشی مورد استفاده قرار می‌گیرد. مُدهای عملکردی نوک کانتی‌لیور مُد تماسی(Contact Mode) در مد تماسی، تیپ در ناحیه نیروهای دافعه واندروالسی بین اتم های نوک تیپ با سطح و بدون ایجاد ارتعاش روی کانتیلور عمل می کند. دستگاه با یک مکانیسم فید بک انحراف کانتیلور را اندازه گرفته و در یک نقطه ثابت نگاه می دارد. زمانی که تیپ در حال روبش سطح می باشد، تصویربرداری با ثبت ولتاژ اعمال شده به پیزوالکتریک متحرک انجام می شود. مد تماسی برای بررسی سطوح سخت با تیپ های نازک و فوق تیز و سخت مناسب می باشد. مُد غیرتماسی(Non-Contact Mode) در مد غیر تماسی میکروسکوپ نیروی اتمی، تیپ در ناحیه نیروهای جاذبه واندروالسی با سطح و با ایجاد ارتعاش روی کانتیلور عمل می کند. در این حالت کانتیلور در نزدیکی یک فرکانس رزونانس طبیعی، نوسان می کند. سپس نمونه نزدیک می شود تا دامنه کانتیلور به مقدار تعیین شده کاهش یابد. بدین صورت که اثر متقابل تیپ- نمونه باعث کاهش شدید دامنه می شود، وقتی که این فاصله به ابعاد نانومتری رسید، تیپ سطح نمونه را روبش می کند. در این حالت مکانیسم فیدبک دامنه نوسان را اندازه گیری کرده و ثابت نگاه می دارد. این مد بیشتر برای محیط هوا و مایع مناسب می باشد. از آن جایی که نیروی کمتری بر نمونه وارد می شود در نتیجه این روش تخریب کمتری را برای نمونه های نرم و تیپ دربر دارد. مد تماس متناوب یا ضربه‌ای(Tapping Mode) این حالت نیز مانند حالت بدون تماس است با این تفاوت که در حالت تماس متناوب نوک کانتی‌لیور مرتعش به آرامی با نمونه برخورد می‌کند و دامنه نوسان خیلی بزرگتر از حالت بدون تماس است. در این روش، تصویرسازی با استفاده از دامنهٔ ارتعاش کانتی‌لیور انجام می‌شود. شکل شماره ۳ - منحنی نیرو-فاصله شکل ۳ یک منحنی شماتیک نیرو-فاصله را برای میکروسکوپ نیروی اتمی نشان می‌دهد. در فاصلهٔ دور از نمونه، کانتی‌لیور(تیر یکسر گیردار) توسط نیروی بین‌اتمی جذب نمی‌شود و در حالت تعادل آزاد خود است. اما هنگامی که کانتی‌لیور به سطح نمونه نزدیک می‌شود، نیروهای جاذبه کانتی‌لیور را به سمت نمونه جذب می‌کنند. هنگامی که نوک با سطح در تماس است، نیروهای دافعه غالب بوده و کانتی‌لبور را دور می‌کنند. خطوط پررنگ دامنهٔ کار معمول م. ن. اها را در حالت‌های تماسی و بدون تماس نشان می‌دهند. پیکان افقی دراز، دامنهٔ معمول تماس متناوب را نشان می‌دهد. مزایا و معایب مزایا سرعت بالا سادگی تهیهٔ نمونه اطلاعات دقیق ارتفاع قابلیت کار در هوا، خلا و مایعات (بر خلاف میکروسکوپ‌های الکترونی) قابلیت مطالعهٔ سیستم‌های زیستی زنده محدودیت‌ها بازهٔ مطالعهٔ عمودی محدود بازهٔ بزرگنمایی محدود وابستگی اطلاعات بدست آمده به نوع نوک میکروسکوپ امکان آسیب دیدن نوک میکروسکوپ یا نمونه
در این صفحه تعداد 846 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ نیروی اتمی که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI میکروسکوپ نیروی اتمی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Fish gelatin; Sodium chloride; Sucrose; Atomic force microscopy (AFM); Nanostructure; Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Dinoflagellates; Diatoms; Cyanobacteria; Fluorescence excitation emission matrix (FEEM); Lectin staining coupled with confocal laser scanning microscopy (CLSM); Atomic force microscopy (AFM)
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Pressurized metered dose inhalers (pMDIs); Colloidal probe microscopy (CPM); Atomic force microscopy (AFM); Suspension stability; Dwell force; Instantaneous force
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Hetero-aggregation; Quartz crystal microbalance with dissipation (QCM-D); Silica and sphalerite (ZnS); Gypsum supersaturated solution; Atomic force microscopy (AFM); DLVO theory
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Atomic force microscopy (AFM); Cement paste; High temperature exposure; Nano-structure; Shrinkage of C–S–H; Image analysis
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; AFM; atomic force microscopy; SMFS; single molecular force spectroscopy; SPFS; single particle force spectroscopy; CME; clathrin mediated endocytosis; CCV; clathrin-coated vesicle; TSS; tip-sample separation; Clathrin triskelion and clathrin-coated vesicl
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Atomic force microscopy (AFM); Biomaterials; Elastic modulus; Hydrogel; Substrates; Tissue engineering;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Meibum; Contact lens deposits; Meibomian gland dysfunction (MGD); Atomic force microscopy (AFM); Langmuir–BlodgettSecreciones de las glándulas de Meibomio; Depósitos de las lentes de contacto; Disfunción de las glándulas de Meibomio (MGD); Microscopio de
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; SRPRS; spatially resolved polarized Raman spectroscopy; CSS; cross-sectional surface; RSRs; Raman selection rules; BSG; backscattering geometry; Raman spectroscopy; Atomic force microscopy (AFM); GaP micro structures; Interface; Wurtzite; Zinc-blende;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; In situ tri-polymer nanofibrillar composites (istp-NFCs); Microcellular injection molding (MIM); Local surface nanomechanical property (SLNP); Peakforce quantitative nanomechanics (PQNM); Atomic force microscopy (AFM); Interface;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Synchrotron radiation-based X-ray fluorescence microscopy (SR-XRFM); Synchrotron radiation-based scanning transmission X-ray microscopy (SR-STXM); Atomic force microscopy (AFM); Single cell elemental quantification; Iterative error estimation;