دانلود مقالات ISI درباره اغتشاش کنونی + ترجمه فارسی

Joule heating dominated fracture behavior change in micro-scale Cu/Sn-3.0Ag-0.5Cu/Cu(Ni) joints under electro-thermal coupled loads

Keywords: اغتشاش کنونی; Electro-thermal coupled loads; Fracture; Current crowding; Localized-melting; Strain mismatch;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Unified view on energy and electrical failure of the short-circuit operation of IGBTs

Keywords: اغتشاش کنونی; Current filaments; Safe operating area; Thermal destruction; Current destruction; Current crowding; Thermal runaway; Overvoltage; Filament movement;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Effects of finger dimension on low-frequency noise and optoelectronic properties of Ge metal-semiconductor-metal photodetectors with interdigitated Pt finger electrodes

Keywords: اغتشاش کنونی; Ge MSM photodetector; Dark current; NPDR; 1/f noise; Electric field crowding; Current crowding;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

SPICE level implementation of physics of filamentation in ESD protection devices

Keywords: اغتشاش کنونی; Drain extended NMOS (DeNMOS); Current crowding; Electrothermal; Thermal runaway; Instability;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Abnormal depletion of Cu metallization pads in line–bump–line solder joints under electron current stressing

Keywords: اغتشاش کنونی; Abnormal Cu depletion; Electromigration; Line–bump–line solder joint; Current crowding; Sn crystallographic orientation

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

16-Channel micro magnetic flux sensor array for IGBT current distribution measurement

Keywords: اغتشاش کنونی; IGBT; Current distribution; Current crowding; Film sensor; Reliability analysis; Magnetic flux; Digital calibration; Flat sensitivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

Simultaneous extraction of source and drain resistances in top contact organic thin film transistors from a single test structure

Keywords: اغتشاش کنونی; OTFT; Contact resistance; PVP; Pentacene; Current crowding; Transmission line model

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Current density redistribution from no current crowding to current crowding in Pb-free solder joints with an extremely thick Cu layer

Keywords: اغتشاش کنونی; Electromigration; Current crowding; Soldering; Current effect of microstructure

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Effects of metal stacks and patterned metal profiles on the electromigration characteristics in super-thin AlCu interconnects for sub-0.13 μm technology

Keywords: اغتشاش کنونی; AlCu; Interconnects; Electromigration; Current crowding; AlCu underlayer; Sidewall profile

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Effect of current crowding on electromigration lifetime investigated by simulation and experiment

Keywords: اغتشاش کنونی; Electromigration; Current crowding; Interconnect; Lifetime;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Comparison of theory and experiment in a modified BICFET/HFET structure

Keywords: اغتشاش کنونی; BICFET; Current crowding; HFET

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Damage mechanics of electromigration induced failure

Keywords: اغتشاش کنونی; Electromigration; Damage mechanics; Current crowding; Nanoelectronics; Solder joint; High current density

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Electromigration induced strain field simulations for nanoelectronics lead-free solder joints

Keywords: اغتشاش کنونی; Electromigration; Thermomigration; Viscoplasticity; Current crowding; Finite element method; Nanoelectronics packaging

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 16 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Analysis on the effect of parallel current path on the quality factor of CMOS spiral inductors for 1-10 GHz

Keywords: اغتشاش کنونی; Parallel-branch inductor; Quality (Q) factor; Current crowding;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه