![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Dielectric properties of pulsed-laser deposited indium tin oxide thin films
Keywords: عملکرد دی الکتریک; STEM-VEELS; Ellipsometry; ITO; Dielectric function; Pulsed-laser deposition; Microstructure