دانلود مقالات ISI درباره بیضه سنجی طیف سنجی + ترجمه فارسی

Dielectric properties and thickness metrology of strain engineered GaN/AlN/Si (111) thin films grown by MOCVD

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; GaN; III-Nitrides; Raman spectroscopy; MOCVD; Thin films; Substrate engineering; Ion-implantation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Characterization of pulsed laser deposited hydrogenated amorphous silicon films by spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Hydrogenated silicon; Spectroscopic ellipsometry; Backscattering spectrometry; Pulsed laser deposition;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Temperature dependent model dielectric function of highly disordered Ga0.52In0.48P

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; GaInP; Dielectric function; Optical constant; Temperature dependence; Refractive index; Extinction coefficient; Spectroscopic ellipsometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometry studies on hydrogenated amorphous silicon thin films deposited using DC saddle field plasma enhanced chemical vapor deposition system

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Hydrogenated amorphous silicon; Spectroscopic ellipsometry; DC saddle field;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Dielectric functions of PECVD-grown silicon nanoscale inclusions within rapid thermal annealed silicon-rich silicon nitride films

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Silicon-rich silicon nitride; Silicon; Nanoscale inclusions; Optical properties; Dielectric functions; Rapid thermal annealing;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Gravitational waves detector mirrors: Spectroscopic ellipsometry study of Ta2O5 films on SiO2 substrates

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Ta2O5; Spectroscopic Ellipsometry; Gravitational Waves detectors;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Micelle-assisted bilayer formation of cetyltrimethylammonium bromide thin films studied with combinatorial spectroscopic ellipsometry and quartz crystal microbalance techniques

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Quartz crystal microbalance; Surfactants; CTAB; Cetyltrimethylammonium bromide;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

In-situ monitoring of alkanethiol self-assembled monolayer chemisorption with combined spectroscopic ellipsometry and quartz crystal microbalance techniques

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Quartz crystal microbalance; Self-assembled monolayers; SAMs; Alkanethiols;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Characterization of damage structure in ion implanted SiC using high photon energy synchrotron ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Silicon carbide; Ion implantation; Spectroscopic ellipsometry; Crystal disorder; Damage profile;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical conductivity of fci-ZnMgRE quasicrystals

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Quasicrystals; Spectroscopic ellipsometry; Optical conductivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Total internal reflection ellipsometry of metal-organic compound structures modified with gold nanoparticles

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Total internal reflection ellipsometry; Spectroscopic ellipsometry; Surface plasmons; Gold nanoparticles;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Rotating compensator sampling for spectroscopic imaging ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Rotating compensator; Spectroscopic imaging ellipsometry; Spectroscopic ellipsometry; Imaging ellipsometry; Ellipsometry; Nanofilm pattern;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Ellipsometric study of SixC films: Analysis of Tauc-Lorentz and Gaussian oscillator models

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Tauc-Lorentz oscillator; Gaussian oscillator; Parameter sensitivity analysis; Silicon-carbon films;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Determination of the refractive index of single crystal bulk samples and micro-structures

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Refractive index; Surface potential; Spectroscopic ellipsometry; Whispering-gallery modes; ZnO; Micro-wire;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spectroellipsometric and ion beam analytical investigation of nanocrystalline diamond layers

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Ultrananocrystalline diamond; Microwave plasma enhanced CVD; Spectroscopic ellipsometry; Ion beam analysis; Atomic force microscopy; X-ray diffraction;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Characterisation of ultra-shallow disorder profiles and dielectric functions in ion implanted Si

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Ion implantation; Spectroscopic ellipsometry; Ultra low energy ion implantation; Shallow implantation; Defects in semiconductors;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Systematic combination of X-ray reflectometry and spectroscopic ellipsometry: A powerful technique for reliable in-fab metrology

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; X-ray reflectometry; Transparent conductive oxide; Amorphous carbon;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometry characterization of high-k gate stacks with Vt shift layers

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; High-k dielectrics; Film thickness; Spectroscopic ellipsometry; Vt shift layer; Capping layer; HfO2; La2O3; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Extension of Far UV spectroscopic ellipsometry studies of High-κ dielectric films to 130 nm

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; High-κ; Hafnium; Lanthanum; X-ray reflectivity; Cody-Lorentz;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical and structural properties of solution deposited nickel manganite thin films

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Nickel manganite; Microbolometer; Spectroscopic ellipsometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

A broadband analysis of the optical properties of silver nanoparticle films by in situ real time spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Real time spectroscopic ellipsometry (RTSE); Silver; Nanoparticles; Optical properties; Particle plasmon polariton; Interband transition; Intraband transition;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical properties of gold island films-a spectroscopic ellipsometry study

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Metal islands; Surface plasmon; Optical properties;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Annealing of polymer films with embedded silver nanoparticles: Effect on optical properties

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Silver nanoparticles; Localized plasmons; Spectroscopic ellipsometry; Polymer; Poly(vinyl alcohol) (PVA);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Ellipsometric study of nanostructured carbon films deposited by pulsed laser deposition

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Nanoporous; Carbon; Thin film; Pulsed laser deposition;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Virtual separation approach to study porous ultra-thin films by combined spectroscopic ellipsometry and quartz crystal microbalance methods

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Quartz crystal microbalance; Organic thin films;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Rotatable broadband retarders for far-infrared spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Far-infrared retarder; Spectroscopic ellipsometry; Rotatable retarder; Total internal reflection; TOPAS; Double-Fresnel rhomb;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Ellipsometric study of thermally induced redistribution and crystallization of Ge in Ge:SiO2 mixture layers

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Optical characterization; Quantum confinement; Material mixtures; Spectroscopic ellipsometry; Optical constants; Crystallization of Ge;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Staining proteins: A simple method to increase the sensitivity of ellipsometric measurements in adsorption studies

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Bovine serum albumin; Protein adsorption; Coomassie brilliant blue G; Lorentz; Antifouling coatings

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Characterization of DC reactive magnetron sputtered NiO films using spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; NiO films; Spectroscopic ellipsometry; Tauc-Lorentz dispersion function;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

FTIR and spectroscopic ellipsometry investigations of the electron beam evaporated silicon oxynitride thin films

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Silicon oxynitride; FTIR; Spectroscopic ellipsometry; Optical constants

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical properties of thermochromic VO2 thin films on stainless steel: Experimental and theoretical studies

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Vanadium oxide; Thermochromic materials; Thin films; Multi-layer optical model; Reflectance spectra; Spectroscopic ellipsometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical properties and switching of a Rose Bengal derivative: A spectroscopic ellipsometry study

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Thin films; Optical properties; Rose Bengal; Spectroscopic ellipsometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Ellipsometric investigation of the mechanism of the formation of titanium oxynitride nanolayers

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Nitrides; High-k materials; Optical properties; Thin films; Spectroscopic ellipsometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Microstructure characterization of microcrystalline silicon thin films deposited by very high frequency plasma-enhanced chemical vapor deposition by spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Microcrystalline silicon; High pressure; Spectroscopic ellipsometry; Incubation layer

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical analysis of the microstructure of a Mo back contact for Cu(In,Ga)Se2 solar cells and its effects on Mo film properties and Na diffusivity

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Molybdenum back contact; Film porosity; Spectroscopic ellipsometry; Cu(In,Ga)Se2 solar cell

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Effect of ion bombardment and hydrogen pressure during deposition on the optical properties of hydrogenated amorphous carbon thin films

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Hydrogenated amorphous carbon; Spectroscopic ellipsometry; Optical properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Detection of low molecular weight toxins using an optical phase method of ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Total Internal Reflection Ellipsometry; Direct immunoassay; Competitive immunoassay; Kinetics of immune reaction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Substrate treatment and drying conditions effect on the properties of roll-to-roll gravure printed PEDOT:PSS thin films

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Roll-to-roll printing; Gravure; Conductive polymers; Spectroscopic ellipsometry; Drying effect

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Thermally tunable optical constants of vanadium dioxide thin films measured by spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Optical constants; Dielectric function; Optical conductivity; Phase transition temperature; Vanadium dioxide; Spectroscopic ellipsometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Investigation of crystal structure and new ellipsometric properties of hexagonal CdS epilayers

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Hexagonal-CdS; Spectroscopic ellipsometry; Hot-wall epitaxy; SEM image; Pseudodielectric function;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Band alignment of metal-oxide-semiconductor structure by internal photoemission spectroscopy and spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Internal photoemission; Spectroscopic ellipsometry; High-k dielectric; Metal gate; MOS; Band offsets; Band alignment; Interface;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical properties of soda-lime float glass from spectroscopic ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Float glass; Soda-lime glass; Refractive index; Birefringence; Air side; Tin side; Index gradient;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Using a slit doser to probe gas dynamics during Al2O3 atomic layer deposition and to fabricate laterally graded Al2O3 layers

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Atomic layer deposition; Aluminum oxide; Gas flow dynamics; Lateral gradient; Graded layers; Multilayer optics; Spectroscopic ellipsometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometry studies on the optical constants of Bi4Ti3O12:xNa thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Bismuth titanate; Thin films; Doping; Optical constants; Spectroscopic ellipsometry; Surface morphology; X-ray diffraction; Metal-organic chemical vapor deposition

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

In-depth characterization and computational 3D reconstruction of flagellar filament protein layer structure based on in situ spectroscopic ellipsometry measurements

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; In-depth distribution; Protein layer structure; In situ process control; Mass density profile; 3D layer structure reconstruction;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Determination of the Dill parameters of thick positive resist for use in modeling applications

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Dill parameters; Thick resist; Simulation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Characterization of inhomogeneity in TiO2 thin films prepared by pulsed dc reactive magnetron sputtering

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometry; Inhomogeneity; Titanium dioxide; Sputtering; Transmission electron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Evaluation of intact- and fragmented-antibody based immunosensors by total internal reflection ellipsometry

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Total internal reflection ellipsometry; Spectroscopic ellipsometry; Surface plasmon resonance; Fragmented-antibody; Oriented-immobilization; Bovine leukemia virus

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometry studies of reactively sputtered nitrogen-rich GaAsN films

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; GaAsN films; Spectroscopic ellipsometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Optical properties of Yeast Cytochrome c monolayer on gold: An in situ spectroscopic ellipsometry investigation

Keywords: بیضه سنجی طیف سنجی; Yeast Cytochrome c; Gold; Optical properties; Spectroscopic ellipsometry

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه