کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10621120 | 988775 | 2005 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Indentation-induced phase transformations in silicon: influences of load, rate and indenter angle on the transformation behavior
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Nanoindentation has been used widely to study pressure-induced phase transformations in Si. Here, a new aspect of the behavior is examined by making nanoindentations on (1 0 0) single crystals using a series of triangular pyramidal indenters with centerline-to-face angles varying from 35.3° to 85.0°. Effects of indenter angle, maximum load, and loading/unloading rate are systematically characterized from nanoindentation load-displacement data in conjunction with micro-Raman imaging spectroscopy of the residual hardness impressions. Results are discussed in terms of prevailing ideas and models for indentation-induced phase transformations in silicon.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 53, Issue 6, April 2005, Pages 1759-1770
Journal: Acta Materialia - Volume 53, Issue 6, April 2005, Pages 1759-1770
نویسندگان
Jae-il Jang, M.J. Lance, Songqing Wen, Ting Y. Tsui, G.M. Pharr,