کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10707724 | 1023779 | 2005 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ultra-low-temperature homoepitaxial growth of Sb-doped silicon
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
An ultra-low-temperature process for homoepitaxial growth of high-quality, surface-confined, Sb-doped silicon layers is presented. Non-equilibrium growth by molecular beam epitaxy (MBE) is used to achieve dopant incorporation in excess of 2Ã1014 cmâ2 in a thin, surface-confined layer. Sb surface segregation larger than expected from theoretical models was observed, in agreement with other experimental works. Furthermore, this work details an entirely low-temperature process (<450 °C) that can be applied to fully processed and aluminum-metallized silicon devices. One application of this process is the formation of a back-surface electrode for back-illuminated high-purity silicon imaging arrays.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 285, Issue 4, 15 December 2005, Pages 473-480
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 285, Issue 4, 15 December 2005, Pages 473-480
نویسندگان
Jordana Blacksberg, Michael E. Hoenk, Shouleh Nikzad,