کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1553737 | 1513247 | 2013 | 16 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Polarization based charge density drain current and small-signal model for nano-scale AlInGaN/AlN/GaN HEMT devices
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Comparison and advantages of this material over other HEMT devices with reference. ⺠Detailed analysis of AlInGaN/AlN/GaN HEMT with experimental dimensions from [27-29]. ⺠Model for polarization and drain current model. ⺠Small signal parameters are derived and compared with TCAD and EXP. using Unity gain method. ⺠It gives DC and RF plot data with experimental compared results.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 54, February 2013, Pages 188-203
Journal: Superlattices and Microstructures - Volume 54, February 2013, Pages 188-203
نویسندگان
D. Godwinraj, Hemant Pardeshi, Sudhansu Kumar Pati, N. Mohankumar, Chandan Kumar Sarkar,