کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1794063 1023689 2008 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Molecular beam epitaxy of highly antimony doped germanium on silicon
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Molecular beam epitaxy of highly antimony doped germanium on silicon
چکیده انگلیسی

We investigated the antimony incorporation in germanium at high concentration regime above the maximum equilibrium solid solubility of 1.2×1019 cm−3. As growth method molecular beam epitaxy at temperatures between 160 and 330 °C was used. Electrical active Sb incorporation up to 2×1020 cm−3 was obtained. At higher chemical Sb concentrations up to 6×1020 cm−3 only a fraction of the dopants is electrically active at room temperatures.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Crystal Growth - Volume 310, Issue 21, 15 October 2008, Pages 4531–4534
نویسندگان
, , ,