کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4970835 1450303 2017 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ultra-high thermal stability and extremely low Dit on HfO2/p-GaAs(001) interface
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Ultra-high thermal stability and extremely low Dit on HfO2/p-GaAs(001) interface
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 178, 25 June 2017, Pages 154-157
نویسندگان
, , , , , , ,