کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6942785 | 1450326 | 2016 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Current density profile characterization and analysis method for focused ion beam
ترجمه فارسی عنوان
مشخصات تراکم کنونی و روش تجزیه و تحلیل برای پرتو یون متمرکز
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 155, 2 April 2016, Pages 19-24
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 155, 2 April 2016, Pages 19-24
نویسندگان
Yuval Greenzweig, Yariv Drezner, Shida Tan, Richard H. Livengood, Amir Raveh,