کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6944083 | 1450373 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Mass spectrometry techniques in the context of nanometrology
ترجمه فارسی عنوان
تکنیک های رسانای طیف سنجی در زمینه نانومواد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
نقاط کوانتومی نیمه هادی ها، نانومواد، طیف سنجی جرمی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
⺠CdS QDs smaller than 6 nm diameter were produced by soft chemistry methods. ⺠MALDI-TOF mass spectrometry technique is applied to QDs for size determination. ⺠MALDI-TOF MS and TEM techniques are complementary tools for nanometrology.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 108, August 2013, Pages 187-191
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 108, August 2013, Pages 187-191
نویسندگان
M. Fregnaux, J.J. Gaumet, S. Dalmasso, J.P. Laurenti, R. Schneider,