کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
6944164 | 1450372 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optimized electrode and interface for enhanced reliability of high-k based metal-insulator-metal capacitors
ترجمه فارسی عنوان
الکترود و رابط بهینه شده برای افزایش قابلیت اطمینان از خازن فلز مقره با کیفیت بالا
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 148-151
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 109, September 2013, Pages 148-151
نویسندگان
Johannes Koch, Konrad Seidel, Wenke Weinreich, Stefan Riedel, Jung-Chin Chiang, Volkhard Beyer,