دانلود رایگان مقاله ISI : رویکرد مستقل انحراف برای بررسی عمق غلظت عناصر در مواد چند لایه با طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس فوکوس

Direct deconvolution approach for depth profiling of element concentrations in multi-layered materials by confocal micro-beam X-ray fluorescence spectrometry

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Talanta - Volume 113, 15 September 2013, Pages 62-67

Pawel Wrobel, Mateusz Czyzycki,