کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7875560 1509522 2018 50 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Glancing-incidence focussed ion beam milling: A coherent X-ray diffraction study of 3D nano-scale lattice strains and crystal defects
ترجمه فارسی عنوان
شبیه سازی-اشعه یون فشرده سازی متمرکز شده است: یک مطالعه ی پراش اشعه ایکس مستقل از سوپرایز های شبکه سه بعدی در نانو و نقاط کریستالی
کلمات کلیدی
پرتو یون متمرکز شده، آسیب ایمپلنت، پراش اشعه ایکس، جابجایی، سویه های باقی مانده شبکه
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش مقاله
شبیه سازی-اشعه یون فشرده سازی متمرکز شده است: یک مطالعه ی پراش اشعه ایکس مستقل از سوپرایز های شبکه سه بعدی در نانو و نقاط کریستالی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 154, 1 August 2018, Pages 113-123
نویسندگان
, , , , , ,