کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7875582 1509521 2018 26 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Radiation damage reduction by grain-boundary biased defect migration in nanocrystalline Cu
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Radiation damage reduction by grain-boundary biased defect migration in nanocrystalline Cu
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 155, 15 August 2018, Pages 410-417
نویسندگان
, , , ,