کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7877088 1509532 2018 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High-resolution electron microscopy characterization of modulated structure in high Nb-containing lamellar γ-TiAl alloy
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
High-resolution electron microscopy characterization of modulated structure in high Nb-containing lamellar γ-TiAl alloy
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 144, 1 February 2018, Pages 516-523
نویسندگان
, ,