کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7877088 | 1509532 | 2018 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High-resolution electron microscopy characterization of modulated structure in high Nb-containing lamellar γ-TiAl alloy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: High-resolution electron microscopy characterization of modulated structure in high Nb-containing lamellar γ-TiAl alloy High-resolution electron microscopy characterization of modulated structure in high Nb-containing lamellar γ-TiAl alloy](/preview/png/7877088.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Acta Materialia - Volume 144, 1 February 2018, Pages 516-523
Journal: Acta Materialia - Volume 144, 1 February 2018, Pages 516-523
نویسندگان
Guo-dong Ren, Jian Sun,